“武汉光源高精度电源控制卡”测试验收会议顺利召开
2023年11月15日武汉大学组织专家在上海焱伏科技有限公司举行了"武汉光源高精度电源控制卡"测试验收会，与会专家听取了武汉光源关于高精度电源控制卡研制项目介绍和上海焱伏科技有限公司针对本项目控制卡的自测结果汇报，确认了相关技术指标的测试方法。现场查看了设备的运行状况，对负载电流采样通道的温漂、PWM最小分辨率、PWM级联与同步功能及带载（安装在电源上测试）情况等关键指标进行了复测。
针对自测结果与现场复测结果，通过认真讨论，专家组形成意见如下:
1.武汉光源高精度电源控制卡各项性能指标达到或优于设计指标要求；
2.控制卡在负载电流采样通道的有效位数及温漂、PWM分辨率性能指标国内领先，能满足先进衍射极限储存环磁铁电源的高精度控制要求；
专家组一致认为武汉大学和上海焱伏科技有限公司联合研制的高精度电源控制卡达到合同约定的设计要求。
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武汉光源高精度电源控制卡现场测试内容 |
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项目 |
性能要求 |
现场测试结果 |
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硬件模式 |
集成性单卡模式、多软核系统 |
符合 |
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主控芯片 |
EP4CE55F23C8N规格以上 |
符合 |
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电流采样通道有效位数（PWM输出频段范围内） |
不低于18bit |
优于 |
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电流采样通道有效分辨率（10kHz，100kHz） |
10kHz：1ppm;100kHz：5ppm |
符合 |
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电流采样通道线性度（PWM输出频段范围内） |
±10ppm |
符合 |
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电流采样通道温漂（PWM输出频段范围内） |
优于±5ppm/°C |
优于 |
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其它ADC采样通道 |
3路独立的优于14位有效分位数的ADC采样通道 |
优于 |
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模拟量输出 |
一路优于14位有效位数的DAC |
优于 |
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PWM设计频率 |
1kHz~200kHz |
符合 |
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外置存储器 |
1片SDRAM，一片并行FLASH，两片串行FLASH |
符合 |
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外部接口 |
通用的10/100BASE-TX自适应网络接口或超级网口 |
符合 |
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数字联锁接口 |
8路隔离的数字输出接口，16路隔离的数字输入接口 |
符合 |
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多控制器PWM同步、移相、级联控制 |
支持 |
符合 |
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PI控制算法 |
归一化全数字PI |
符合 |
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可编程动态波形控制，支持自触发，光纤同步外触发（硬件支持，软件可升级） |
支持 |
符合 |
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温漂修正 |
支持 |
符合 |
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适用电源种类（硬件） |
静态、动态电源 |
符合 |
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PWM通道分辨率测试 |
静态、动态电源 |
符合 |
